产品说明书 | 康冠光电铌酸锂调制器产品使用说明
1 标准版器件外形尺寸及管脚定义

图1 强度调制器器件尺寸图
2.BIAS
3.Cathode
4.Anode
PD可不加电压使用。如需加电使用,需3接“+”,4接“-”,其电压值不得大于15V

图2 相位调制器器件尺寸图
2 器件拿持方式
收到电光调制器器件并打开包装后,请配带静电手套/静电手环再接触器件金属管壳部分,拿取按照图3所示方式,使用镊子将器件的光输入/光输出端口从盒子凹槽取出,再把调制器主体从海绵凹槽中取出;然后一手拿持调制器主体,一手拖住调制器光输入/光输出端口。
图3 正确拿持器件方式

图4 错误拿持器件方式(拉扯尾纤)
3 使用前准备和检查
a.观察产品表面,模块表面及光纤套管无破损;
b.检查标签无污损,丝印标记清晰;
c.电法兰无破损,各电极引脚完好;
d.使用光纤端面检测仪检查两端光纤是否干净。
4 使用方法
4.1 强度调制使用方法
4.1.1 强度调制器使用原理框图
图5 强度调制器使用原理框图
a.检查强度调制器输入/输出光纤端面是否干净,如有污渍,请使用酒精擦拭干净;
b.按照使用框图连接;
c.强度调制器为保偏输入,建议使用时采用保偏光源(光源波长视调制器适用波长而定),光源光功率为10dBm为宜;
d.强度调制器管脚定义如图1所示,使用时将电源GND与调制器1管脚连接,电源正极与2管脚连接,3/4脚分为调制器内部PD的阴极与阳极,如需使用请将此PD与后端的采集电路使用,且该PD无需加电压就可使用(如调制器没有内部PD,3/4管脚为NC,悬空管脚);
e.强度调制器材料为铌酸锂,施加电场时晶体的折射率会发生变化。所以给调制器加载电压时,调制器的插损会随着施加的电压变化而变化,用户可根据使用将调制器控制在某个工作点来使用。
4.1.3 注意事项
a.调制器光输入不得大于测试单上标定值,否则会损坏调制器;
b.调制器射频输入不得大于测试单上标定值,否则会损坏调制器;
c.调制器偏置电压脚添加电压≤±15V
4.2 相位调制器使用方法
4.2.1 相位调制器使用原理框图

图6 相位调制器使用原理框图
4.2.2 相位调制器使用步骤
a.检查强度调制器输入/输出光纤端面是否干净,如有污渍,请使用酒精擦拭干净;
b.按照使用框图6连接;
c.相位调制器为保偏输入,建议使用时采用保偏光源(光源波长视调制器适用波长而定),光源光功率为10dBm为宜;
d.相位调制器管脚定义如图2所示,使用时将射频信号与调制器射频输入口连接;
e.相位调制器添加射频信号后即可工作,完成相位电光调制器,经过调制后的光,使用光电探测器不能直接探测器出调制的射频信号,通常需要搭建干涉仪,经过干涉以后才能使用光电探测器探测出射频信号。
4.2.3 注意事项
a.调制器光输入不得大于测试单上标定值,否则会损坏调制器;
b.调制器射频输入不得大于测试单上标定值,否则会损坏调制器;
c.搭建干涉仪时对使用环境要求比较大,环境抖动,光纤晃动都会对测试结果有影响。
5 性能测试方法
5.1调制器插入损耗
5.1.1测试原理框图

图7调制器插入损耗测试框图
a.将光源和起偏器连接后,开启光源,用光功率计测试被测器件输入光功率 Pi;
b.将被测器件接入测试系统,稳压电源输出两端和调制器1(GND),2(Bias)管脚连接(有些批次调制器还需要调制器1管脚与外壳连接);
c.调节稳压电源的输出电压,测试光功率计的最大读数为Pout;
d.被测器件如果是相位调制器则无需添加稳压电源,直接读取光功率计读输Pout;
e.按公式(1)计算插入损耗。

测试光源为线偏振单频激光器,输入光偏振方向需与被测调制器工作轴方向相同,稳压电源调节步进越小测试越准确。广法兰与光纤接头拧动松紧会造成一定的测试误差,一般在0.5dB以内。
5.2强度调制器开关消光比
5.2.1测试框图

图8 强度调制器开关消光比测试框图
5.2.2测试步骤
a.将光源和起偏器连接后,开启光源;
b.将被测器件接入测试系统,稳压电源输出两端和调制器1(GND),2(Bias)管脚连接(有些批次调制器还需要调制器1管脚与外壳连接);
c.调节稳压电源的输出电压,测试光功率计的最大读数为Pmax, 最小读数为Pmin;
d.按公式(2)计算插入损耗。
5.2.3测试说明
测试光源为线偏振单频激光器,输入光偏振方向需与被测调制器工作轴方向相同,稳压电源调节步进越小测试越准确。广法兰与光纤接头拧动松紧会造成一定的测试误差,一般在0.5dB以内。
5.3 调制器半波电压
5.3.1测试框图

图9 强度调制器半波电压测试框图

图10 相位调制器半波电压测试框图
a.以RF端半波电压为例,按图9连接测试系统,信号源和被测器件以及示波器通过三通器件连接;当测试Bias端半波电压时,按照虚线连接。
b.开启光源和信号源, 给被测器件施加锯齿波信号(测试频率典型值1KHz),锯齿波信号Vpp应大于2倍半波电压;
c.开启示波器;
d.探测器输出信号为余弦信号,记录该信号相邻的波峰处和波谷处对应的锯齿波电压值V1和V2;
e.按公式(3)计算半波电压。
5.3.2.2 相位调制器半波电压测试步骤
a.按图10连接测试系统;
b.按图连接测试系统, 形成光干涉仪结构的两臂光程差必须在相干长度之内。信号源和被测器件RF端以及示波器通道1通过三通器件连接,;
按图连接测试系统, 形成光干涉仪结构的两臂光程差必须在相干长度之内。信号源和被测器件RF端以及示波器通道1通过三通器件连接,将示波器输入端口调整为高阻态;
c.按图b连接测试系统;
d.开启激光器和信号源, 给被测器件施加一定频率(典型值50KHz)锯齿波信号,探测器输出信号为余弦信号,锯齿波信号Vpp应大于2倍半波电压,但不要超过调制器规定的输入电压范围,使探测器输出余弦信号至少呈现一个完整的周期;
e.记录余弦信号相邻的波峰与波谷处对应的锯齿波电压值V1和V2;
f.按公式(3)计算半波电压。
5.3.2.3测试说明
该方法下需要将示波器输入口调整为高阻态,锯齿波Vp-p不要超过调制器规定的输入电压范围。
5.4 强度调制器3dB带宽
5.4.1测试框图
5.4.2测试步骤
a.按图 4 连接;
b.对矢量网路分析仪进行预置和校准;
c.通过矢量网络分析仪给被测器件施加指定频率范围的调制信号;
d.开启光源,通过调节bias电压,使调制器稳定在线性工作点,读取矢量网络分析仪测得的电信号功率从最大值下降 3dB 对应的频率范围为3dB带宽,记录S21曲线;
调制信号的大小一般不大于器件半波电压的 10%。
5.5 调制器电反射
5.5.1测试框图

图12 电反射测试框图
5.5.2测试步骤
a.按图 5 连接测试系统;
b.开启矢量网络分析仪的 S11测试功能,设定频率范围,扫描测试器件的 S11特征图;
c.根据 S11特征图得出规定的信号频率对应的电反射值 S11。
注:该用户手册适用于多种型号,请针对您调制器型号进行查阅,用户手册中所有内容最终解释权归本公司所有。